Serie 378 - Hochleistungs Inspektionsmikroskop

High Power Inspection Microscope
The FS-300 is designed for inspecting microcomponents such as IC chips and video head parts. The optical system features ultra-long working distance objectives, widefield eyepieces, and independent correction for lateral chromatic aberration.

FEATURES

  • A complete FS-300 system can be composed of a variety of components for meeting diverse applications.
  • Available with or without a transmitted light illuminator.
  • Ultra-long working distance objectives provide easy manipulation of workpieces.
  • Easy switching between bright-field illumination and dark-field illumination.
  • Optional accessories widen the range of applications.
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